Influence of Temperature on Microelectronics System Reliability A Physics of Failure Approach 1st Edition
著者 Pradeep Lall, Michael G. Pecht
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| 出版社: | Taylor & Francis Group |
| 発売日: | 24-Apr-1997 |
| ISBN: | 0849394503 |
| ISBN13: | 9780849394508 |
| 形式: | Hardback |
| 重量: | 1125 gms |
| 書誌情報: | pp. 336, 400 equations |
書籍タイトル "Influence of Temperature on Microelectronics System Reliability A Physics of Failure Approach 1st Edition" 著者 Pradeep Lall. こちらの書籍が発行された年 1997. 書籍ＩＳＢＮ番号 0849394503|9780849394508 このタイトルは Hardback バージョンに割り当てられます 書籍の総ページ数 pp. 336 (ページ) この書籍の出版社はこちらです Taylor & Francis Group. 当サイトにはこちらの出版社から 157416 冊の素晴らしい書籍がございます